Поиск:
 

Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»

RU-1000 Рейтинг
Поделитесь страницей в Социальных сетях
Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L»
"Нонотехнологический комплекс (НТК) «Умка-02-L» представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного. Низкотоковая модификация специально разработана для исследования плохопроводящих полимерных пленок и биологических объектов. Благодаря особенностям конструкции комплекса, он может работать на поверхостных точках утечки и сканировать объекты, ранее считавшиеся непригодными для изучения методами СТМ без дополнительных технологических операций (запыления металами и т.д.). Комплекс также может использоваться для исследования быстроокисляемых поверхностей и поверхностей с высокой адгезией. Принцип работы туннельного микроскопа основан на эффекте туннелирования электронов через диэлектрический барьер в системе металл-диэлектрик-металл или металл-диэлектрик-полупроводник. В качестве одного из электродов выступает исследуемый образец, который должен быть проводящим, в качестве другого — игла микроскопа (зонд). Основные технические характеристики: • поле сканирования 7x7 мкм; • разрешение в плоскости образца не хуже 0,02 нм, по вертикали не хуже 0,01 нм; • размер образца 8x8x0,5 мм; • время сканирования полного кадра не более 4 мин."
Вас также могут заинтересовать

Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с крио-ультрамикротомом

Уникальная исследовательская система Snotra представляет собой комбинацию сканирующего зондового микроскопа (атомно-силового микроскопа, СЗМ, АСМ) и криоультрамикротома.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Hitachi ТМ3000

Настольный сканирующий электронный микроскоп ТМ3000 чрезвычайно прост в управлении и имеет очень компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений и мобильных лабораторий. Ре

Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode

"Сканирующий зондовый микроскоп MultiMode Размер образца - 15х15х5 мм; Крепление образца - на магнитный столик; Тип сканирования - образцом; Поле сканирования - до 150х150х5 мкм (зависит от сканера);

Сканирующий сквид-микроскоп ССМ-77

Cканирующий магнитный микроскоп на основе СКВИДа - сверхпроводящего квантового интерференционного датчика - предназначен для исследования магнитных характеристик различных объектов при температуре кип

МКТ для сканирующей электронной микроскопии

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ Микрокомпьютерная томография (МКТ) для сканирующей электронной микроскопии поможет дополнить ее точной трехмерной микроскопией независимо от производителя или мод
Внимание!
Информация по Сканирующий туннельный микроскоп НТК «Умка 02L» предоставлена компанией-поставщиком Исследовательский центр имени М.В.Келдыша, ГНЦ ФГУП. Для того, чтобы получить дополнительную информацию, узнать актуальную цену или условия постаки, нажмите ссылку «Отправить сообщение».
Контакты компании
Страна
Россия
Регион
Московская область
Город
Москва
Адрес
Москва, ул. Онежская, д. 8
Телефон
+7 (495) 4564608
Сделать запрос
Введите свое имя
Укажите свой Email
Напишите ваш вопрос
Подтвердите согласие