Анализ изображений, анализ нанообъектов, аналитический комплекс для многомасштабного анализа изображений нанообъектов, наноструктур и наноматериалов SIAMS-CP Nanotech

В комплексе SIAMS-CP Nanotech объединены новейшие отечественные и зарубежные достижения в области информационных технологий, методов цифровой микроскопии, алгоритмов анализа изображений, многомасштабного структурирования и анализа данных.* Комплекс SIAMS-CP Nanotech включает большой набор решений для анализа изображений. Специализированные решения позволяют анализировать изображения различных видов нано- и микроструктур, полученных методами сканирующей электронной микроскопии, просвечивающей электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии, конфокальной и оптической микроскопии и др. Автоматизированный анализ изображений Передовая технология работы с изображениями основана на использовании новой методологии автоматизированного анализа изображений Smart Imaging Spreadsheet™. К преимуществам такого подхода относятся: Естественная автоматизация процесса анализа, существенно упрощающая исполнение повторяющихся операций. В рамках новой технологии созданная однажды последовательность операций анализа изображений легко превращается в готовое настраиваемое решение, предназначенное для выполнения конкретной задачи. Визуальный контроль процесса и результатов анализа, включающий простую настройку параметров обработки изображений, генерацию вариантов решений, а также средства ручного редактирования и аннотирования результатов. Большой набор готовых решений для задач автоматизированного анализа нанообъектов, наноструктур и наноматериалов. Готовые решения позволяют получать точные воспроизводимые данные об объектах анализа при минимальном участии оператора, снижая, таким образом, субъективные факторы и повышая скорость анализа и производительность аналитической лаборатории. Использование готовых решений обеспечивает соответствие измерений государственным и фирменным стандартам качества. Аналитическое управление многомасштабной информацией Преимущества комплекса Большой набор решений для анализа изображений наноматериалов и наноструктур. Передовые технологии визуализации и анализа данных. Многомасштабный подход к анализу структур мезо, микро и наноуровней. Уникальная система Multiscale Data Center для интеграции данных, получаемых с различных приборов и масштабных уровней анализа. Интеграция различных методов анализа в единую систему обработки и хранения данных. * Комплекс SIAMS-CP Nanotech является результатом интеграции разработок Центра фотохимии РАН, компаний SIAMS и Smart Imaging Technologies (USA).