"новое поколение приборов для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработ...
Назначение: механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии. Варианты шлифовки: плоское шлифование, вышлифовк...
"модифицированные системы на базе сканирующих электронных микроскопов Quanta. Приборы для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео...
Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1пА до 11,5нА,...
с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 3,5 нм при 30кВ в режимах высокого вакуума, низкого вакуума, естественной сре...