инструмент для анализа поверхности, использующий сразу несколько методик, построен на базе разработанной компанией PHI технологии рентгеновского микро...
с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 3,5 нм при 30кВ в режимах высокого вакуума, низкого вакуума, естественной сре...
Устройство для шлифовки образцов Назначение: ручная механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии. Позволяе...
"Устройство для перфорирования образцов Назначение: устройство предназначено для ультразвуковой нарезки твердых и хрупких материалов. Резка проводится...
Ионный микроскоп с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, ускоряющее напряжение от 5 кВ до 20 кВ, разрешение 7 нм, ток пучка от 1пА до 11,5нА,...