с естественной средой, ускоряющее напряжение от 200В до 30кВ, разрешение 3,5 нм при 30кВ в режимах высокого вакуума, низкого вакуума, естественной сре...
Назначение: механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии. Варианты шлифовки: плоское шлифование, вышлифовк...
инструмент для анализа поверхности, использующий сразу несколько методик, построен на базе разработанной компанией PHI технологии рентгеновского микро...
"модифицированные системы на базе сканирующих электронных микроскопов Quanta. Приборы для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео...
Устройство для шлифовки образцов Назначение: ручная механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей микроскопии. Позволяе...